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        NI、東京電子、FormFactor和Reid-Ashman聯(lián)合演示5G毫米波半導(dǎo)體晶圓探針測試解決方案在NIWeek 2019上演示

        —— 合作有助于降低5G毫米波IC驗證和生產(chǎn)測試的風(fēng)險和成本
        作者: 時間:2019-05-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

        2019年5月21日 -  Week  - (美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱) 是一家以軟件為中心的平臺供應(yīng)商,致力于幫助用戶加速自動化測試和自動測量系統(tǒng)的開發(fā)和性能,該公司宣布并演示了其與東京電子(8035-TO)、FormFactor (Nasdaq:FORM)和 Reid-Ashman合作開發(fā)的5G毫米波晶圓探針測試解決方案。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/201905/400744.htm

        該演示解決方案可解決與5G毫米波晶圓探針測試相關(guān)的技術(shù)挑戰(zhàn),有助于半導(dǎo)體制造商降低5G毫米波IC的風(fēng)險、成本和上市所需的時間。毫米波頻率的新特性正在挑戰(zhàn)傳統(tǒng)探針技術(shù)的信號完整性,傳統(tǒng)探針技術(shù)包括探探針接口板(PIB)、探針?biāo)吞结槹?。NI、TEL、FormFactor和Reid-Ashman合作推出了一種直接的對接探針解決方案,該解決方案簡化了信號路徑,改善了毫米波應(yīng)用所必需的信號完整性,并且支持頂部和底部負(fù)載探針應(yīng)用。

        該解決方案的一個關(guān)鍵要素是NI半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(STS),該系統(tǒng)最近為5G功率放大器、波束成形器和收發(fā)器增加了多站點毫米波測試功能。該解決方案的一個主要優(yōu)點是模塊化,允許復(fù)用軟件以及帶混合搭配毫米波無線電頭的基帶/IF儀器,以解決當(dāng)前和未來受關(guān)注的毫米波頻帶。

        該解決方案

        ?采用NI STS進(jìn)行5G毫米波測試,支持直接對接探針

        ?采用TEL PrecioTM XL自動晶圓探針,針對并行芯片測試進(jìn)行了優(yōu)化,具有高度精確的x、y和z軸控制能力,有可靠的接觸靈敏度

        ?采用 FormFactor Pyramid-MW探針板,可在生產(chǎn)測試環(huán)境中實現(xiàn)卓越的射頻信號完整性和更長的接觸器壽命

        ?采用Reid-Ashman OM1700通用機(jī)械手,通過電動運動可實現(xiàn)高效而可重復(fù)的對接,而不會影響產(chǎn)品安全性

        NI企業(yè)戰(zhàn)略副總裁Kevin Ilcisin博士表示:“我們相信,我們與領(lǐng)先的無線芯片制造商、測試單元集成合作伙伴、OSAT和5G研究界的早期合作促使我們在毫米波5G生產(chǎn)測試中將風(fēng)險降至最低。這是NI致力于優(yōu)先投資以最大化我們?yōu)榭蛻籼峁┑膬r值,以應(yīng)對重大行業(yè)挑戰(zhàn)的最新例證。”

        我們鼓勵對該解決方案感興趣的半導(dǎo)體芯片制造商和OSAT來參觀NIWeek展廳的半導(dǎo)體館,觀看演示并與各公司的代表進(jìn)行交談。




        關(guān)鍵詞: NI 測試測量

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