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        無源晶振的頻率該如何測量

        作者: 時(shí)間:2019-01-18 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          晶振,是電路中重要的電子元件,控制著系統(tǒng)運(yùn)行的節(jié)拍。基于不同的應(yīng)用場景,晶振有多種類型,是其中價(jià)格便宜而又應(yīng)用廣泛的一種。在使用測量輸出頻率時(shí),常常會(huì)發(fā)現(xiàn)晶振有輸出無信號、晶振不起振等異常情況。本文就此情況略談一二。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/201901/396921.htm

          1.簡介

          無源晶振,準(zhǔn)確來說應(yīng)叫Crystal(晶體),有源晶振則叫Oscillator(振蕩器)。無源晶振是在石英晶片的兩端鍍上電極而成,其兩管腳是無極性的。無源晶振自身無法震蕩,在工作時(shí)需要搭配外圍電路。在一定條件下,石英晶片會(huì)產(chǎn)生壓電效應(yīng):晶片兩端的電場與機(jī)械形變會(huì)互相轉(zhuǎn)化。當(dāng)外加交變電壓的頻率與晶片的固有頻率相等時(shí),晶體產(chǎn)生的振動(dòng)和電場強(qiáng)度最大,這稱為壓電諧振,類似與LC回路的諧振。

        圖 1 石英晶體的電路符號、等效電路、電抗特性及外圍電路圖

          由于晶體為無源器件,其對外圍電路的參數(shù)較為敏感,尤其為負(fù)載電容。根據(jù)晶體的手冊,我們得知測試電路中有推薦電容,此電容對晶體是否起振大有關(guān)聯(lián):

          Cg、Cg稱作匹配電容,是接在晶振的兩個(gè)腳上的對地電容,其作用就是調(diào)節(jié)負(fù)載電容使其與晶振的要求相一致,需要注意的是Cg、Cg串聯(lián)后的總電容值()才是有效的負(fù)載電容部分。Cic:芯片引腳分布電容以及芯片內(nèi)部電容?!鰿:PCB走線分布電容,經(jīng)驗(yàn)值為3至5pF。

          在某項(xiàng)目上使用到的一款32.768kHz無源晶振,手冊中負(fù)載電容推薦值為12.5pF??梢姶酥递^為細(xì)小,微小的變化足以影響電路特性。

          2.探頭的影響

          探頭,其實(shí)跟一樣,都是測量系統(tǒng)的一部分,其正確使用與否很大影響著測試結(jié)果。當(dāng)探頭的探針點(diǎn)擊測量點(diǎn)時(shí),探頭的接入會(huì)對被測電路造成影響,這被稱為探頭的負(fù)載效應(yīng)。這種負(fù)載效應(yīng)一般簡化為電阻與電容的并聯(lián)。在帶寬500MHz以下的,一般標(biāo)配是1倍衰減或10倍衰減的無源探頭,某些探頭的衰減比可手動(dòng)選擇。不同衰減比的探頭在帶寬、輸入電阻、輸入電容上面都有差異:

        圖 2 ZP1025SA 1倍、10倍衰減時(shí)的參數(shù)差異

          可見探頭的輸入電容,比晶體手冊的負(fù)載電容要大。探頭的介入,必定大大影響到原已參數(shù)優(yōu)化好的電路,從而嚴(yán)重影響晶體電路的起振。兩害相權(quán)取其輕,測量無源晶振時(shí)應(yīng)優(yōu)先選用10倍衰減探頭。若10倍衰減探頭的寄生參數(shù)還是過大,可以考慮選用有源高壓差分探頭,其負(fù)載參數(shù)優(yōu)化得非常小,如Lecroy的ZP1000探頭,輸入阻抗可達(dá)0.9pF、1M歐姆。



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        關(guān)鍵詞: 無源晶振 示波器

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