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        基于ATE的FPGA測試

        作者: 時間:2017-06-05 來源:網(wǎng)絡 收藏

        隨著集成電路技術的飛速發(fā)展,的應用越來越廣泛,其測試技術也得到了廣泛重視和研究。文章簡要介紹了的發(fā)展及其主要組成部分,提出了一種用ATE對進行測試的方法和具體測試流程。以一段Xilinx XC3042的真實為例詳細描述了Intel HEX文件格式,以及將其轉換成二進制配置碼的方法,并介紹了FPGA的配置碼格式和長度的計算方法。然后,以外設配置模式為例,通過XC3042的配置電路原理圖和配置時序詳細描述了FPGA的配置原理;最后給出了采用ATE(Automatic Test Equipment)-J750對FPGA的配置與測試過程,為FPGA的通用測試提供了一種切實可行的有效方法。

        基于ATE的FPGA測試.pdf

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/201706/348972.htm


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