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        JATG調(diào)試器詳解

        作者: 時間:2016-11-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        通常所說的JTAG大致分兩類:
        一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;
        一類用于Debug;
        一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。
        一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)內(nèi)置模塊的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。
        上面說的只是JTAG接口所具備的能力,要使用這些功能,還需要軟件的配合,具體實現(xiàn)的功能則由具體的軟件決定。
        下面我首先介紹一個JTAG幾條線的作用:
        Test Clock Input(TCK)
        TCK為TAP的操作提供了一個獨立的、基本的時鐘信號,TAP的所有操作都是通過這個時鐘信號來驅(qū)動的,TCK在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
        Test Mode Selection Input(TMS)
        TMS信號用來控制TAP狀態(tài)機的轉(zhuǎn)換。通過TMS信號,可以控制TAP在不同的狀態(tài)間互相轉(zhuǎn)換。TMS信號在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
        Test Data Input(TDI)
        TDI是數(shù)據(jù)輸入的接口,所有要輸入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是用過TDI接口一位一位串行輸入的(由TCK驅(qū)動),TDI在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
        Test Data Output(TDO)
        TDO是數(shù)據(jù)輸出的接口。所有要從待定的寄存器中輸出的數(shù)據(jù)都是通過TDO接口一位一位串行輸出的(由TCK驅(qū)動)。TDO在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
        Test Reset Input(TRST)
        TRST可以用來對TAP Controller進行復位(初始化)。不過這個信號接口在IEEE 1149.1標準里是可選的,并不是強制要求的。通過TMS可以對TAP Controll進行復位(初始化)。所以有四線JTAG和五線JATG之分


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