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        NI引領PXI發(fā)展新潮流,打造更智能的系統(tǒng)測試

        作者: 時間:2016-07-07 來源:電子產品世界 收藏

          (美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱)近日在上海舉辦了第十三屆“ 技術和應用論壇”( Technology & Application Conference,即 TAC)。作為PXI標準的發(fā)起者,每年一度的PXI TAC已經成為國內PXI技術應用的新成果展示舞臺,攜手眾多合作伙伴共同為600余名行業(yè)領軍人物、技術專家和相關機構代表展示了基于PXI技術實現(xiàn)的各種系統(tǒng)設計理念,共同分享最新、最全、最前沿的測試領域技術干貨,探討PXI技術的發(fā)展趨勢和應用案例。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/201607/293742.htm

          本次PXI TAC的主題為“更智能的系統(tǒng)-更智能的系統(tǒng)測試”, 在今年的PXI TAC上,NI發(fā)布了7位半數(shù)字萬用表(DMM)、802.11ax無線測試解決方案、用于毫米波(mmWave)的軟件無線電(SDR)和模塊化源測量單元(SMU)等多款業(yè)界首創(chuàng)的PXI新產品,再度引領PXI技術發(fā)展的新潮流,致力于幫助用戶打造更加智能的系統(tǒng)測試解決方案。同時,15家國內外知名PXI供應商和系統(tǒng)集成商亮相本次PXI TAC,展示了他們基于PXI技術開發(fā)的各項產品和技術應用。

          自NI推出PXI技術以來,PXI平臺現(xiàn)已成為了自動化測試和控制的主流平臺。和傳統(tǒng)儀器相比,PXI平臺具有較高的測量能力,低延遲和高帶寬,軟件靈活定義,集成定時和同步,高處理性能,尺寸、重量、功耗小,平臺儀器齊全等優(yōu)點;并且PXI平臺可以作為整個系統(tǒng)的中心,連接已有的其他儀器,如LXI,VXI,USB,GPIB等,在最大可能減少系統(tǒng)瓶頸的情況下,保持已有設備投資。因此,越來越多的客戶使用PXI平臺的儀器開展自動化測試。據Frost & Sullivan預測,到2021年,PXI平臺作為整個儀器行業(yè)的主力增長力量,將會一直以超過15%的增長率持續(xù)增長。

          圖:NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale

          NI始終致力于PXI技術的不斷進步,并在這一領域不斷投入和持續(xù)創(chuàng)新。隨著以物聯(lián)網為代表的智能系統(tǒng)的興起,智能設備呈爆炸式增長態(tài)勢,對測試和測量任務提出更加嚴峻的挑戰(zhàn)。“在物聯(lián)網的大背景下,智能設不斷涌現(xiàn),形成了更智能的系統(tǒng),這就必然需要更加智能的測試系統(tǒng)。憑借開放靈活的軟件、模塊化的硬件和完整的生態(tài)系統(tǒng),PXI平臺獲得了自動化測控領域工程師的一致認可,”NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale表示,“作為PXI平臺的發(fā)明者和市場領導者, NI多年來堅持將PXI TAC打造成開放、自由的技術交流平臺。我們期待與各界同仁攜手,促成PXI平臺的持續(xù)創(chuàng)新,應對測試測量任務越來越嚴峻的挑戰(zhàn)。”



        關鍵詞: NI PXI

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