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        在電路測(cè)試階段使用無(wú)鉛PCB表面處理工藝的研究

        作者: 時(shí)間:2012-05-07 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        業(yè)界對(duì)這種表面加工工藝的研究非常有限,但是在技術(shù)上和商業(yè)上看起來(lái)是最具希望的。最近的經(jīng)驗(yàn)表明這種對(duì)于ICT沒(méi)有任何問(wèn)題。制造商現(xiàn)在提供銀板,價(jià)格與HASL產(chǎn)品一樣。

        用戶研究—從HASL到OSP的轉(zhuǎn)變

        研究1—歐洲一個(gè)OEM制造場(chǎng)所

        來(lái)自O(shè)SP試驗(yàn)的一組數(shù)據(jù)顯示如下。這個(gè)試驗(yàn)是由一個(gè)用戶發(fā)起的,他們發(fā)現(xiàn)在引入OSP 作為他們一條產(chǎn)品線的替代的試驗(yàn)時(shí),對(duì)良率有很大的影響。這些是用戶獨(dú)立得到的結(jié)果,并沒(méi)有受到安捷倫的任何影響。使用的測(cè)試設(shè)備是市 場(chǎng)領(lǐng)先者安捷倫3070在器,在業(yè)界這個(gè)設(shè)備被廣泛用作最穩(wěn)定的測(cè)試平臺(tái)。

        研究2—歐洲合同制造商

        這個(gè)合同制造商的研究是受與研究1相似的經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)的,在ICT中得到很差的良率性能。這個(gè)研究目的是發(fā)現(xiàn)根本原因,并對(duì)OEM提供反饋信息。

        這個(gè)試驗(yàn)被分割成兩個(gè)實(shí)驗(yàn)部分。第一個(gè)實(shí)驗(yàn)部分是確定改變探針類型以及加到裸銅OSP測(cè)試點(diǎn)上的探針作用力的影響。第二個(gè)實(shí)驗(yàn)部分關(guān)注于當(dāng)測(cè)試點(diǎn)被焊接時(shí)的性能。

        在第一個(gè)實(shí)驗(yàn)期間,在傳遞到ICT之前將部件存儲(chǔ)在氮中以防止氧化。采用了三種類型的探針,標(biāo)準(zhǔn)的7oz(2N)、7oz10oz(3N)e類探針和螺旋狀探針。

        實(shí)驗(yàn)結(jié)果發(fā)現(xiàn),當(dāng)對(duì)裸露的銅OSP鍍層進(jìn)行探測(cè)時(shí),不同的探針類型對(duì)良率沒(méi)有改善。它平均采用5個(gè)夾具激勵(lì)來(lái)“突破”OSP鍍層。一旦設(shè)備的插腳接觸測(cè)試通 過(guò),測(cè)試程序余下的部分將正常地進(jìn)行,不要求對(duì)模擬測(cè)試約束改變。然而實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)若改變測(cè)試作用力和探針類型,對(duì)測(cè)試點(diǎn)/過(guò)孔的損壞程度也會(huì)發(fā)生重大 改變。這個(gè)試驗(yàn)的結(jié)論是:沒(méi)有焊接的測(cè)試點(diǎn)在ICT中具有很大的問(wèn)題。使用更大的作用力或者更鋒利的測(cè)試探針只會(huì)導(dǎo)致PCB損壞。

        第二個(gè)實(shí)驗(yàn)是對(duì)具有焊接的測(cè)試點(diǎn)的OSP板間的比較,這個(gè)實(shí)驗(yàn)中還包含了少量純粹的OSP樣品。共試驗(yàn)了86個(gè)板子,其中焊接了77個(gè),9個(gè)沒(méi)有焊接。

        在實(shí)驗(yàn)期間,合同制造商利用了他們的全球ICT設(shè)備專家來(lái)對(duì)測(cè)試夾具進(jìn)行檢測(cè)。這個(gè)試驗(yàn)出現(xiàn)了幾個(gè)問(wèn)題,即夾具壓力和記錄受到影響,不能滿足用戶的規(guī)格要求。這凸顯了這樣的事實(shí):即必須一直監(jiān)測(cè)未來(lái)的和現(xiàn)在的ICT測(cè)試夾具質(zhì)量,以確保滿足可接受的標(biāo)準(zhǔn)。

        用戶必須面對(duì)的另外一個(gè)問(wèn)題是電路板上焊膏的應(yīng)用。它們具有很小的測(cè)試對(duì)象,一英寸有3萬(wàn)個(gè),因?yàn)樾枰紤]放置散熱器,在某些區(qū)域的最大焊接高度限制大于0.11毫米。

        本文小結(jié)

        看起來(lái)某些公司的趨勢(shì)是OSP被認(rèn)為是HASL的自然替代。這種選擇很可能是源于認(rèn)識(shí)到單位成本的節(jié)省。ICT工程師應(yīng)該關(guān)注這種趨勢(shì):OSP鍍層的PCB 將達(dá)不到像其他的可選擇的表面處理工藝的性能,除非測(cè)試焊盤被焊料覆蓋。如果沒(méi)有改變工藝流程,可能因?yàn)楦淖儕A具探針、夾具的維護(hù)、修改測(cè)試軟件和損 壞板子的廢料的成本,而抵消初始成本的可能節(jié)省。我們看到在OSP選擇上最近的很多相反的情況發(fā)生。對(duì)那些還沒(méi)有放棄有鉛HASL工藝的客戶的建議是,需 要考慮所有可行的PCB替代工藝的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),確保所有的制造階段都在試驗(yàn)中包含到,包括測(cè)試!對(duì)于銀PCB表面處理工藝對(duì)ICT的影響,我們沒(méi)有任 何確定性的結(jié)果。我們與使用銀處理工藝的客戶討論過(guò),他們?cè)谑褂眠@種表面處理工藝中沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何夾具接觸的問(wèn)題。


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