門電路延遲時間的Multisim仿真測試方案
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仿真時示波器顯示的波形及振蕩周期測試如圖2所示。
測試的振蕩周期T = 102. 2 ns，則傳輸延遲時間tpd= T/ ( 2N ) = 102. 2/ 10= 10. 22 ns，結(jié)果與設(shè)定值基本一致。
圖2 圖1 電路輸出波形及振蕩周期測試
1. 2 測試方案2
將奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路，用虛擬示波器測試其中一個門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間。
以反相器74LS04N 作為仿真實驗器件，構(gòu)建仿真實驗電路如圖3 所示。
圖3 測試方案2 的仿真實驗電路
仿真前，可對74LS04N 的上升延遲時間及下降延遲時間進行設(shè)置，如設(shè)置r ise delay= 10 ns，fall delay=10 ns。
仿真時示波器顯示的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間測試如圖4 所示。
圖4 圖3 電路輸入、輸出波形及延遲時間測試
測試的傳輸延遲時間tpd = 11. 1 ns，測量結(jié)果與設(shè)定值基本一致。
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