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      2. 新聞中心

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        在受控生產(chǎn)環(huán)境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI

        作者: 時(shí)間:2012-01-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        NI的解決方案為此應(yīng)用帶來了許多益處。 首先,NI VSA/VSG解決方案速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類的臺(tái)式儀器 - 如果使用傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器,測(cè)試時(shí)間將會(huì)更長(zhǎng)。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/190845.htm

        – Matthew Kelton, Advanced Instrument Technologies


        The Challenge:
        在緊迫的開發(fā)期限內(nèi),開發(fā)一套包括RF通信測(cè)試的生產(chǎn)測(cè)試儀,用于測(cè)試FDA II類醫(yī)療血糖儀和胰島素輸送系統(tǒng)的子組件。

        The Solution:
        使用NI 軟件、NI頻譜測(cè)量工具包、NI 和NI RF硬件,開發(fā)快速、可重復(fù)的測(cè)試方案。

        Author(s):
        Matthew Kelton - Find this author in the NI Developer Community
        Venkat Raghavan - Find this author in the NI Developer Community

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        Advanced Instrument Technologies, Inc.(AIT)是一家工程技術(shù)服務(wù)公司,為客戶應(yīng)對(duì)測(cè)試工程挑戰(zhàn)提供定制和交鑰匙解決方案。 AIT提供的服務(wù)小至工程支持,大至完整的解決方案。 它為眾多行業(yè)的客戶提供服務(wù),內(nèi)容涉及研發(fā)、制造以及質(zhì)量保證測(cè)試。 自2003年以來,AIT一直是National Instruments Alliance Partner的一員。憑借其先前與合同制造商積極的合作以及和多年使用NI軟硬件的經(jīng)驗(yàn),AIT被選定接手此項(xiàng)應(yīng)用工作,為此項(xiàng)目開發(fā)了軟件并協(xié)助硬件設(shè)計(jì)。


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