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        基于數(shù)字PID增量控制的恒溫晶體振蕩器

        作者: 時間:2013-01-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        式(6)中,e(n-2)是第n-2次采樣偏差,通過控制量作差,消除了偏差累積效應(yīng),當知道采樣偏差e(n),e(n-1),e(n-2)的值時,便可以通過單片機進行數(shù)字增量控制運算得到下一時刻的控制增量,具體的軟件流程如圖4(b)所示。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/170611.htm

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        4 控制參數(shù)kP,kI,kD的調(diào)節(jié)
        在實際的應(yīng)用中,控制器參數(shù)kP,kI,kD的調(diào)節(jié)需要根據(jù)具體的硬件系統(tǒng)進行設(shè)置,初始設(shè)置前可以參考相關(guān)文獻的調(diào)試準則進行設(shè)置,當輸出不振蕩時,可以增大比例參數(shù)kP且應(yīng)減小積分時間常數(shù)TI或增大微分時間常數(shù)TD?;贛SP430單片機先進的JTAG在線仿真調(diào)試技術(shù),通過IAR軟件查看程序運行過程中,偏差變量的變化情況,如圖5(a)所示,為控制參數(shù)分別為kP=5,kI=0,kD=0時某一時刻的偏差變量的值。

        a.JPG


        按照相關(guān)文獻報導(dǎo)的參數(shù)設(shè)置方法及硬件系統(tǒng)的實際特性,調(diào)節(jié)設(shè)置了控制參數(shù)分別為kP=0.85,kI=0.004,kD=0.002,經(jīng)過調(diào)試后某一時刻的偏差變量值如圖5(b)所示,從IAR仿真軟件的變量查看表中,可以看到偏差變量的值趨于0,圖6為具體硬件實物圖和設(shè)置晶體工作在25℃時的溫度-時間(T-t)曲線圖。

        5 結(jié)語
        本論文設(shè)計了以單片機為控制核心,采用熱敏電阻與INA330芯片對晶體溫度進行采集轉(zhuǎn)換,經(jīng)數(shù)字PID增量算法輸出控制增量,通過DRV593芯片驅(qū)動控制TEC對晶體進行加熱或冷卻,同時LCD對晶體溫度進行顯示,經(jīng)過軟件調(diào)試設(shè)置了數(shù)字PID的三個參數(shù)值分別為kP=0.85,kI=0.004,kD=0.002,使系統(tǒng)所采集到的溫度偏差值趨于0,實現(xiàn)了晶體工作在25℃的輸出,本系統(tǒng)的設(shè)計研究對提高控制系統(tǒng)的精確控制性能有著重要意義。

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