2013年3月12~14日，由Microwave Journal及其中文版《微波雜志》主辦的電子設計創(chuàng)新會議(EDI CON 2013)如期在北京順利召開。EDI CON為當前通訊、計算、RFID及工業(yè)無線監(jiān)測等領域的學者、工程師提供最新的RF微波及高速率傳輸產(chǎn)品和技術(shù)，以及多層次的行業(yè)學習機會。EDI CON會議主要聚焦在實際應用、新興技術(shù)和實際工程案例分析，邀請到了行業(yè)和技術(shù)領域的領導廠商來承辦技術(shù)研討會、分組分會和專家講座，把展覽和會議緊密地聯(lián)合在一起。安捷倫、羅德與施瓦茨、泰克、國家儀器等多家測試測量領域的主要廠商都參與其中。EDI CON邀請到了眾多國內(nèi)外知名的學者參與，其中，歐洲太空總署電磁學和空間環(huán)境部主任Bertram R. Arbesser-Rastburg先生在開幕式全體會議上介紹了微波技術(shù)在空間應用中的現(xiàn)狀，空間應用對于微波技術(shù)的特殊要求和影響等。作為微波技術(shù)相關領域重要的會議和展會第一次在中國舉辦，無疑對國內(nèi)外微波技術(shù)相關領域的交流有著推動作用?！　?/p>本文引用地址：http://www.antipu.com.cn/article/144678.htm