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        在射頻產品設計中將仿真與測量相結合

        作者:DAVIDHALL 時間:2012-09-12 來源:電子產品世界 收藏

          當前的軟件的一個新特性是能夠不斷提高環(huán)境和測試軟件間軟件之間連通性。更具體地說,這種連通性能夠實現(xiàn):(1)現(xiàn)代的軟件環(huán)境推動測量軟件的發(fā)展,以及(2)測量自動化環(huán)境能夠實現(xiàn)EDA設計環(huán)境的自動化。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/136704.htm

          連通軟件環(huán)境的好處之一是,它允許設計工程師在設計過程的早期階段就使用更為豐富的測量算法。這不僅讓工程師在設計過程中及早地了解其設計相關的重要信息,而且還能夠將來自驗證/確認過程的測量數(shù)據(jù)與仿真建立關聯(lián)。增加EDA和測試環(huán)境的連通性的第二個好處是,它允許測試工程師在設計過程中更快地開發(fā)工作測試代碼——最終減少復雜產品的上市時間。

          EDA豐富了測量的內容

          EDA和測試軟件的連通性改進產品設計過程的方法之一是提供了更豐富的測量。從根本上說,EDA工具使用行為模型來預測新設計產品的行為。但可惜的是,仿真設計的驗證所使用的測量標準,與用于驗證最終產品的測量標準完全不同——這使得關聯(lián)仿真和測量數(shù)據(jù)變得相當困難。

          一個日益明顯的趨勢是:在過程中使用相同的工具鏈——這種趨勢最終能夠使工程師將測量結果及早引入到設計流程中。

          例如,考慮一個蜂窩多模式RF功率放大器的設計案例。過去,這種類型的放大器使用RF EDA工具來設計和建模,如AWR Microwave Office。在EDA環(huán)境中,工程師們通常“測量”RF的特性,如效率、1-dB壓縮點,并通過仿真獲取這些參數(shù)。但是,最終的產品必須應用額外的RF測量標準,以符合公開發(fā)布的蜂窩通信標準,例如,GSM/EDGE、 WCDMA、和 LTE。

          從過去來看,針對特定標準的參數(shù)測量數(shù)據(jù),例如LTE標準的誤差向量幅度(EVM)和相鄰信道泄露比(ACLR),都需要連接被測設備的測量儀器,因為其測量方法非常復雜。而展望未來,由于EDA軟件和自動化軟件之間的連通性,能夠在EDA環(huán)境中的仿真設備上實現(xiàn)這些復雜的測量算法, 因此,工程師能夠及早地在設計階段就識別出系統(tǒng)相關的或者復雜產品相關的問題,從而大大地縮短產品的設計時間。

          產品開發(fā)流程的并行化

          將過程連通的另一個趨勢是:使用EDA生成的行為模型,可加速產品驗證/確認過程和生產測試軟件的開發(fā)。過去,導致產品設計過程中效率低下的原因之一就是:對于一個特定的產品,只有在完成第一個物理原型后,才能夠開始開發(fā)測試代碼。

          改進這一過程的方法之一就是:針對一個特定的產品設計,建立其軟件原型,并將其作為編寫特性測試或產品測試代碼時的待測設備(DUT)。通過這一方法,特性測試或產品測試軟件的開發(fā)過程能夠與產品的設計過程并行,從而減少產品投向市場的總體時間。

          以Medtronic公司的工程師在最近的一個起搏器產品設計過程中所使用的方法為例,他們采用了一個新的軟件工具,將Mentor Graphics EDA環(huán)境與 LabVIEW軟件連通。在連通這兩個軟件環(huán)境之后,Medtronic公司的工程師可以在生產出實際的產品之前,就開始著手建立一個測試工作站。這種設計方法所實現(xiàn)的固有的并行機制,能夠讓工程師比過去更快地將產品推向市場。

          Mentor Graphics公司系統(tǒng)工程部門的副總裁Serge Leef指出:“將EDA工具和我們的測試軟件連通,能夠在開發(fā)產品的同時開發(fā)測試工作站,并將測試結果更早地反饋至開發(fā)過程中,通過開發(fā)過程與測試過程的并行運行,而非串行運行,大大地縮短產品設計周期。”


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        關鍵詞: NI EDA 設計和測試

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