NI5665與傳統(tǒng)儀器對比演示-設(shè)置與細(xì)節(jié)
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TOI測試
本文引用地址：http://www.antipu.com.cn/article/133948.htm在此測試中，我們將生成中心頻率相差1MHz的兩個單頻信號。如果兩個信號源之間沒有足夠的間隔，信號源所產(chǎn)生的互調(diào)失真會掩蓋被測接收機(jī)的失真。每個信號源輸出口的AtlanTec(ACC - 20010系列)隔離器、Mini -Circuits功率分配器被用于信號結(jié)合，確保信號源失真低于被測失真的接收器水平。上下TOI都會被計(jì)算在內(nèi)(只有上部TOI在視頻中顯示)。計(jì)算的上下TOI的方法如下。
IP3 Lower = P1 + (P2- IMD lower)/2
IP3 Upper = P2 + (P1 - IMD Upper)/2
以下設(shè)置對于兩個儀器都適用。
o 0 dB衰減
o 01 kHz RBW
o 無平均值
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