使用SET2DIL(單端到差分插入損耗)算法來驗證印刷電路板(PCB)上高速差分傳輸線的性能。R&S ZNB高性能矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供極高的動態(tài)范圍和測試精度，極短的掃描時間和簡便的操作。同時，R&S ZNB提高了時域測試性能，并結(jié)合IPC-TM-650認證的SET2DIL技術(shù)，它可以對時域的反射(TDR)和傳輸(TDT)數(shù)據(jù)進行處理從而得到PCB線的差分插入損耗。

　　介質(zhì)與導(dǎo)體損耗所造成信號衰減與失真是設(shè)計與仿真高速差分傳輸線時最重要的考慮因素。幾GHz傳輸線的插入損耗在建模時必須正確地仿真其實際的性能，并在實際設(shè)計時驗證仿真假設(shè)的正確性。

　　創(chuàng)新的SET2DIL算法可以使用兩端口的時域測量來實現(xiàn)四端口頻域測量SDD21。這種方法用單個探頭通過測量單端TDR/TDT(兩端口矢網(wǎng))來獲取差分插入損耗(SDD21)。使用它結(jié)合羅德與施瓦茨公司的R&S ZNB，可以取代當(dāng)前的兩探頭四端口的測量方法。四端口的方法更適合實驗室環(huán)境。而兩端口方法能夠使SDD21的測量更加簡單，而被更多用戶所接受，其中也包括了大批量生產(chǎn)的工廠。

　　“羅德與施瓦茨公司將SET2DIL算法集成到ZNB矢網(wǎng)中，使其能提供無可比擬的測量精度和速度，從而滿足了大批量的PCB板差損測量的需求。”羅德與施瓦茨矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品市場部經(jīng)理Jonathan Leitner說。

　　R&S ZNB具備增強因子功能，它可以讓低頻的分析儀替代高頻的分析儀(更昂貴)來實現(xiàn)時域反射(TDR)和時域傳輸(TDT)的功能。與高頻的設(shè)備相比，R&S ZNB可以通過一個線性因子在時域變化中實現(xiàn)更寬的頻率范圍，并保持原有的掃描范圍，掃描點數(shù)不變，而且沒有其他的附加前提。使用更高的分辨率增強因子，測量的數(shù)據(jù)會通過線性預(yù)測的方法對測量數(shù)據(jù)進行插值。因此，時域上的分辨率得以提高。

　　R&S ZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以覆蓋9kHz到4.5GHz或者8GHz，動態(tài)范圍可達140dB，401個掃描點的掃描時間為4ms，除此之外，他還具有極低的軌跡噪聲和出色的測量穩(wěn)定度。 R&S ZNB主要面向有源和無源射頻器件的研發(fā)和生產(chǎn)的測試需求。

　　R&S ZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還具備超大的觸摸顯示屏可以使用戶輕易地實現(xiàn)儀器的功能，而且每個功能的實現(xiàn)不超過三個操作步驟。屏幕為結(jié)果顯示預(yù)留的很大的空間，即使是復(fù)雜的測量也能獲得清晰直觀的顯示效果。