高端SoC測試測量設備趨向于靈活性提高，并降低成本。以V93000系列來說，產(chǎn)品系列簡潔，只有區(qū)區(qū)幾個系列，卻可以完成多種測試，秘訣在于在測試臺上可以更換板卡，有的測試設備可以放置20多種板卡。其核心技術(shù)也在于這些板卡上Verigy專有的ASIC芯片(Verigy像安捷倫一樣，有自己的IC設計團隊，因此競爭對手很難模仿)。

　　V101平臺是針對低端IC測試的，例如MCU測試，該產(chǎn)品2009年6月才推出，該設備的重要目標是在華的MCU制造商和代工廠。

　　內(nèi)存市場周期性變化影響顯著(圖4和圖5)，預計2010年下半年內(nèi)存市場將恢復，其驅(qū)動力為智能手機、Windows 7，長期驅(qū)動力是SSD(固態(tài)硬盤)。據(jù)美國應用材料公司的Mike Splinter預測，DRAM將在2010年一季度成為巨大的復蘇驅(qū)動力。Verigy的V6000系列的特點是AC性能高于880Mbit/s，能同時測試超過18k I/O引腳和4k PPS(可編程電源)。同時可適合各種內(nèi)存器件，靈活可配置，成本較低。

　　VLSI Research公司預計先進的內(nèi)存測試卡市場在2010年將達到5億美元市場(圖6)，2013年達到8億美元市場。Verigy的觸壓(Touchdown)業(yè)務始于2006年，主要做基于MEMS的測試卡，用于內(nèi)存測試(NOR、DRAM和NAND)。與V6000系列一樣，服務同樣的客戶，但是成本更低。產(chǎn)品用于美國、我國臺灣、日本和新加坡等。(相關(guān)閱讀：近訪硅谷:Verigy把半導體測試從高向低延伸http://wangying1.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/68716)