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        博客專欄

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        PCBA失效分析

        發(fā)布人:新陽(yáng)檢測(cè) 時(shí)間:2022-11-09 來源:工程師 發(fā)布文章



        PCBA元器件發(fā)生脫落現(xiàn)象,據(jù)此進(jìn)行試驗(yàn)分析,查找失效原因。

        #1樣品BGA脫落;#2樣品BGA有微裂紋(未偏位);#3樣品FPC空板(未貼裝器件)。


        分析過程


        #1樣品

        #1樣品外觀圖


        剝離面分析


        SEM剝離面形貌分析


        #1-1:


        #1-2:


        說明:從表面殘留焊錫及斷面狀態(tài)分析,存在有河流花樣及解理臺(tái)階,判斷其為解理斷裂,即脆性斷裂。


        EDS成分分析



        說明: 對(duì)#1-1焊盤進(jìn)行EDS分析,主要檢出Sn、Ni、P、Cu元素,其中P含量高達(dá)15%左右。



        PCB鍍層的分析

        PCB鍍層(Pd鈀)的分析選取邦定芯片的一個(gè)pin位置,采用化學(xué)褪金后觀察Pd表面的晶格狀態(tài)。




        說明:#1樣品褪金后Pb層的晶格狀態(tài)分析:晶格致密、平整,晶粒間無空洞或縫隙,無異常。


        #2樣品

        #2樣品外觀圖


        1.外觀分析


        #整體圖示


        2-1號(hào)焊點(diǎn)

        2-4號(hào)焊點(diǎn)

        3-1號(hào)焊點(diǎn)


        說明:#2樣品上側(cè)(靠近玻璃芯片處)的焊球(①、③)與基板起翹分離。②、④焊球未見明顯異常。


        2.斷面分析


        金相分析


        說明: #2樣品的①、②焊點(diǎn)切片斷面金相分析,焊點(diǎn)① 焊球與焊盤開裂,呈分離狀態(tài),開裂縫隙由外向內(nèi)(芯片端→PCB邊緣端)變小。


        SEM分析


        #焊點(diǎn)①斷裂兩側(cè)狀態(tài)分析



        右側(cè)放大圖示

        說明:焊盤為SMD類型,從焊點(diǎn)兩側(cè)斷裂狀態(tài)可見,存在焊錫受阻焊膜壓迫形成臺(tái)階現(xiàn)象,以及焊錫與阻焊膜之間存在應(yīng)力殘留的結(jié)構(gòu)特征。兩邊緣開裂位置基本都在富磷層。


        小課堂:BGA焊盤兩種定義方式


        1.阻膜定義(SMD):

        焊盤的尺寸要比非阻焊掩膜大,再流焊接后,熔化的焊料球接觸阻焊掩膜。

        主要問題是由SMD焊點(diǎn)產(chǎn)生的應(yīng)力集中,這是造成焊點(diǎn)失效及可靠性變?nèi)醯钠鹨颉?/p>

        2.非阻焊定義(NSMD):

        掩膜的開口要比銅箔焊盤大,所以在再流之后,焊料球不會(huì)接觸阻焊掩膜。


        #焊點(diǎn)②焊接狀態(tài)分析:


        說明:#2樣品的焊點(diǎn)②狀態(tài)良好,IMC層連續(xù)、均勻,平均厚度為1.58μm,富磷層0.17um。


        EDS成分分析



        說明: 對(duì)焊點(diǎn)①進(jìn)行EDS分析,主要檢出Sn、Ni、P、Cu元素,其中富磷層P含量在10.5%左右,Ni層P含量在8.5%左右。

        #3樣品

        Ni/Pd/Au鍍層厚度分析



        #Ni/Pd/Au厚度:

        注:厚度單位為μm。

        說明:從上記檢測(cè)結(jié)果可見:Au平均厚度:0.0925um;Pd平均厚度:0.0875um;Ni平均厚度:6.275um。

        鎳鈀金工藝鍍層Au、Pd厚度一般要求在0.08μm左右,上記結(jié)果符合要求。


        分析結(jié)果


        綜合以上檢測(cè)信息,針對(duì)BGA焊點(diǎn)裂紋失效解析如下:

        1. 通過對(duì)#1樣品BGA剝離后的斷口分析,有明顯的脆性斷裂特征(平整、河流花樣、解理臺(tái)階),說明該斷裂是由應(yīng)力導(dǎo)致的瞬時(shí)沖擊形成(原始狀態(tài))。



        2.通過對(duì)剝離面的EDS分析,P含量高達(dá)15%左右(#1樣),切片斷面的分析,富磷層的P含量在10.5%左右(#2樣),說明斷裂位置部分處于富磷層。


        3.通過切片斷面的分析,斷裂界面出現(xiàn)在IMC層及富磷層,斷裂裂紋為上下契合狀,進(jìn)一步說明了焊點(diǎn)是受到應(yīng)力導(dǎo)致斷裂。同時(shí),F(xiàn)PC采用SMD焊盤結(jié)構(gòu),焊盤上覆蓋的阻焊膜使BGA焊點(diǎn)與阻焊膜接觸的位置形成了應(yīng)力集中點(diǎn)(同時(shí)也可能有焊接時(shí)的應(yīng)力殘留未釋放),在受到外部應(yīng)力作用時(shí),該位置易被突破。


         分析結(jié)論:根據(jù)以上綜合分析,造成焊點(diǎn)斷裂的原因判斷為,F(xiàn)PC受到應(yīng)力作用,同時(shí)BGA焊點(diǎn)位置由于SMD焊盤設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)有應(yīng)力集中的缺陷,從而造成BGA在受到一定程度的應(yīng)力后出現(xiàn)裂紋失效。


        改善方案


        結(jié)合樣品的工藝流程分析,初步推斷超聲清洗工程可能存在應(yīng)力作用。BGA類產(chǎn)品,對(duì)應(yīng)力作用比較敏感。

        FPC清洗時(shí),BGA所處的不同深度、不同位置受到的應(yīng)力作用可能不同。建議從超聲清洗工藝進(jìn)行驗(yàn)證排查,找到合適的清洗條件(頻率、溫度)。


        新陽(yáng)檢測(cè)中心有話說:


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