電子元件老化——電壓基準中的長期漂移（LTD）

• 了解制造商如何表征和估計用于電子元件老化預(yù)測的電壓參考的長期漂移（LTD）。雖然電壓參考的輸出在理想情況下應(yīng)該與溫度和時間無關(guān)，但現(xiàn)實世界的電壓參考可能會受到溫度和老化的影響?？紤]到這一點，本文將討論制造商如何表征和估計電壓參考的LTD。為了更好地為本文做好準備，閱讀之前的文章以了解石英晶體、電阻器和放大器的老化效應(yīng)可能很重要。電壓基準的老化效應(yīng)總的來說，電壓基準的輸出會隨時間而變化。通常，半導(dǎo)體材料的摻雜水平和封裝材料施加到電壓參考管芯的物理應(yīng)力會隨時間變化，導(dǎo)致電壓參考輸出中的LTD。電壓參考的LTD
• 關(guān)鍵字： 電子元件老化，電壓基準，長期漂移，LTD