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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 轉(zhuǎn)移

        光電探測器陣列CCD轉(zhuǎn)移特性

        • 為了減小氧化層殘余電荷引起界面陷阱中心使載流子消失以提高轉(zhuǎn)移效率,可以在氧化層和襯底之間增加一層隱埋層使轉(zhuǎn)移溝道從表面移向體內(nèi)。由圖1(b)可以看出,勢能極小值脫離了界面進(jìn)入了體內(nèi),避免了表面態(tài)的影響,因
        • 關(guān)鍵字: 轉(zhuǎn)移  特性  CCD  陣列  探測器  光電  

        解析變電站變壓器內(nèi)的構(gòu)點轉(zhuǎn)移情態(tài)解析方法研討

        • 站用變壓器接線原因查找從以下幾方面查找電壓不平衡的原因:懷疑站內(nèi)經(jīng)過室內(nèi)取暖電熱改造后,所帶的負(fù)荷存在三相分配不平衡,因而暫停了這部分電熱負(fù)荷,但電壓不平衡現(xiàn)象依然存在。將全站負(fù)荷倒至任一臺站用變壓器
        • 關(guān)鍵字: 變電站  變壓器  轉(zhuǎn)移  方法    

        基于proteus的51單片機(jī)仿真實例三十三、C語言的goto無條件轉(zhuǎn)移語句演示實例

        • 1、goto語句為無條件轉(zhuǎn)向語句,它的一般形式為:goto 語句標(biāo)號;它是將程序運行的流向轉(zhuǎn)到它所指定的標(biāo)號處去執(zhí)行 2、結(jié)構(gòu)化程序設(shè)計方法主張限制使用goto語句,因為濫用goto語句將使程序流程無規(guī)律,可讀性差。但也
        • 關(guān)鍵字: 實例  無條件  轉(zhuǎn)移  語句  演示  goto  三十三  proteus  單片機(jī)  

        51單片機(jī)教程:單片機(jī)條件轉(zhuǎn)移指令

        • 條件轉(zhuǎn)移指令是指在滿足一定條件時進(jìn)行相對轉(zhuǎn)移。判A內(nèi)容是否為0轉(zhuǎn)移指令JZ relJNZ rel第一指令的功能是:如果(A)=0,則轉(zhuǎn)移,不然次序執(zhí)行(執(zhí)行本指令的下一條指令)。轉(zhuǎn)移到什么地方去呢?如果按照傳統(tǒng)的辦法,就
        • 關(guān)鍵字: 單片機(jī)  指令  轉(zhuǎn)移  條件  教程  

        MiniGUI在OMAP5912上的轉(zhuǎn)移

        • MiniGUI在OMAP5912上的轉(zhuǎn)移,引 言隨著嵌入式的飛速發(fā)展,以ARM為硬件平臺和以Linux為軟件平臺的方式受到廣泛的關(guān)注。圖形用戶界面GUI是是指采用圖形方式顯示的計算機(jī)操作用戶界面。與早期計算機(jī)使用的命令行界面相比,圖形界面對于用戶來說在視
        • 關(guān)鍵字: 轉(zhuǎn)移  OMAP5912  MiniGUI  

        基于電荷轉(zhuǎn)移的電容性觸摸捕獲技術(shù)

        • 無論是移動電話和PDA等便攜式消費電子產(chǎn)品,還是汽車、廚房電器、醫(yī)療設(shè)備以及工業(yè)和商業(yè)感測應(yīng)用,基于直觀式電容性觸摸技術(shù)的解決方案都是這些領(lǐng)域的首選人機(jī)界面。穩(wěn)健可靠的電容性觸摸解決方案正在取代傳統(tǒng)的電阻
        • 關(guān)鍵字: 捕獲  技術(shù)  觸摸  電容  電荷  轉(zhuǎn)移  基于  

        RISC CPU對轉(zhuǎn)移指令的處理及仿真分析

        • 1 引言

          在RISC CPU的設(shè)計當(dāng)中,轉(zhuǎn)移指令的處理對處理器的性能的影響非常關(guān)鍵。轉(zhuǎn)移指令決定著程序的執(zhí)行順序,在程序中的使用頻率很高。RISC CPU中程序是以流水線的方式執(zhí)行的,當(dāng)程序順序執(zhí)行時,下一條指令的地
        • 關(guān)鍵字: 仿真  分析  處理  指令  CPU  轉(zhuǎn)移  RISC  

        基于FPGA的行間轉(zhuǎn)移面陣CCD驅(qū)動電路設(shè)計

        • 1、引言電荷耦合器件(CCD)是一種光電轉(zhuǎn)換式圖像傳感器,它將圖像信號直接轉(zhuǎn)換成電信號。由于CCD具有集成度高、低功耗、低噪聲、測量精度高、壽命長等諸多優(yōu)點,因此在精密測量、非接觸無損檢測、文件掃描與航空遙感
        • 關(guān)鍵字: FPGA  CCD  轉(zhuǎn)移  面陣    

        電容式觸控電荷轉(zhuǎn)移橫向模式技術(shù)

        • 電容式觸控電荷轉(zhuǎn)移橫向模式技術(shù),目前電阻式觸控面板由于其多層材料堆棧架構(gòu)的限制,使其在透光度與計算手指位置的精確度上不若電容式觸控面板來得好,電容式觸控面板若采用電荷轉(zhuǎn)移技術(shù)中的橫向模式方案,則更可解決電容式觸控屏幕噪聲與噪訊比的問
        • 關(guān)鍵字: 模式  技術(shù)  橫向  轉(zhuǎn)移  電荷  電容  

        RISC CPU對轉(zhuǎn)移指令的處理方法及仿真

        • 1 引言

          在RISC CPU的設(shè)計當(dāng)中,轉(zhuǎn)移指令的處理對處理器的性能的影響非常關(guān)鍵。轉(zhuǎn)移指令決定著程序的執(zhí)行順序,在程序中的使用頻率很高。RISC CPU中程序是以流水線的方式執(zhí)行的,當(dāng)程序順序執(zhí)行時,下一條指令的地
        • 關(guān)鍵字: 方法  仿真  處理  指令  CPU  轉(zhuǎn)移  RISC  

        行間轉(zhuǎn)移型面陣CCD圖像采集系統(tǒng)的研究

        無鉛轉(zhuǎn)移與過渡技術(shù)

        共12條 1/1 1
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