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虛擬探測文章進入虛擬探測技術(shù)社區(qū)

利用新一代虛擬探測功能實現(xiàn)DDR等信號去嵌測試

一、內(nèi)存測試中的難點內(nèi)存廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中，內(nèi)存測試也是產(chǎn)品測試中的熱點和難點。內(nèi)存測試中最為關(guān)鍵的測試項目為DQ/DQS/CLK之間的時序關(guān)系。JEDEC規(guī)范規(guī)定測量這幾個信號之間的時序時測試點需要選擇在靠
關(guān)鍵字：虛擬探測 DDR 信號去嵌測試

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