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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 自測(cè)試

自測(cè)試文章進(jìn)入自測(cè)試技術(shù)社區(qū)

基于FPGA的多通道頻率測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)

摘要：設(shè)計(jì)了一種多通道頻率測(cè)量系統(tǒng)。系統(tǒng)由模擬開關(guān)、信號(hào)調(diào)理電路、FPGA、總線驅(qū)動(dòng)電路構(gòu)成，實(shí)現(xiàn)對(duì)頻率信號(hào)的分壓、放大、濾波、比較、測(cè)量，具備回路自測(cè)試功能，可與主設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)交互，具有精度高、可擴(kuò)展、
關(guān)鍵字：頻率測(cè)量 FPGA 自測(cè)試數(shù)據(jù)交互

基于FPGA的SRAM自測(cè)試研究

引言

　　SRAM有高速和不用刷新等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛用于高性能的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。由于半導(dǎo)體工藝技術(shù)的提高以及存儲(chǔ)系統(tǒng)多方面的需要，存儲(chǔ)器件日益向高速、高集成方向發(fā)展，在使系統(tǒng)功能強(qiáng)大的同時(shí)，也增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性
關(guān)鍵字： FPGA SRAM 自測(cè)試

板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)方案簡(jiǎn)介

1.引言在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過建立故障診斷模型來研究
關(guān)鍵字：板級(jí) 電路多信號(hào)模型自測(cè)試

板級(jí)電路多信號(hào)模型的自測(cè)試技術(shù)介紹

1.引言在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過建立故障診斷模型來研究
關(guān)鍵字：板級(jí) 電路多信號(hào)模型自測(cè)試

于TMSF240芯片的內(nèi)部FLASH的一種自測(cè)試方法

摘要：飛控計(jì)算機(jī)作為飛行控制系統(tǒng)的核心控制處理單元，其可靠性要求是所有航空電子設(shè)備中最高的，用于飛控計(jì)算機(jī)...
關(guān)鍵字：內(nèi)部FLASH 自測(cè)試飛控計(jì)算機(jī)

板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)方案介紹

　1.引言　　在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過建立故障診斷模型
關(guān)鍵字：板級(jí) 電路多信號(hào)模型自測(cè)試

板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)

　　1.引言　　在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過建立故障診斷模
關(guān)鍵字：板級(jí) 電路多信號(hào)模型自測(cè)試

SJTAG技術(shù)在ATCA體系的應(yīng)用(圖)

(5)機(jī)框上增加JTAG測(cè)試總線的接口，可直接接入外部測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試，此時(shí)可不依賴CMM，用于數(shù)據(jù)量較大、計(jì)算較復(fù)...
關(guān)鍵字： ATCA SJTAG 單板邊界掃描連接圖 PLD器件凈荷存儲(chǔ)器測(cè)試自測(cè)試告警管理

共8條 1/1 1

自測(cè)試介紹

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