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        EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 老化測(cè)試

        新型功率器件的老化特性:HTOL高溫工況老化測(cè)試

        • _____隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,新型功率器件如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,這些器件在長(zhǎng)期連續(xù)使用后會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象,導(dǎo)致性能退化。如何在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確評(píng)估這些器件的老化特性,成為行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。目前,針對(duì)功率器件的老化測(cè)試主要包括多種不同的測(cè)試方式。其中,JEDEC制定的老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測(cè)試)主要針對(duì)傳統(tǒng)的硅基功率器件。對(duì)于新型的SiC等功率器件,AQG-324標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)一步要求增加動(dòng)態(tài)老化測(cè)試,如動(dòng)態(tài)柵偏和動(dòng)態(tài)反偏測(cè)試。
        • 關(guān)鍵字: 功率器件  老化特性  HTOL  高溫工況  老化測(cè)試  

        一款高精度低成本的LED老化測(cè)試的解決方案

        • 本文所介紹的一種LED照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案,主要說(shuō)明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控軟...
        • 關(guān)鍵字: 高精度  低成本  LED  老化測(cè)試  

        儀器儀表老化測(cè)試及其環(huán)境試驗(yàn)方法

        • 導(dǎo)讀:工業(yè)使用的儀器,使用一定時(shí)期后,將滿足產(chǎn)品老化,老化的試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn),它可以檢測(cè)早期文書的一個(gè)潛在故障...
        • 關(guān)鍵字: 儀器儀表  老化測(cè)試  環(huán)境試驗(yàn)  

        高精度低成本:一款LED老化測(cè)試方案

        • 本文所介紹的一種LED 照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案,主要說(shuō)明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控軟 ...
        • 關(guān)鍵字: 高精度  低成本  LED  老化測(cè)試  

        LED照明產(chǎn)品的老化測(cè)試方案

        • 摘要:本文詳細(xì)介紹了一種LED照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案。主要說(shuō)明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控軟件,實(shí)現(xiàn)最大程度的發(fā)揮電源在老化系統(tǒng)中的作用,提高多個(gè)LED 產(chǎn)品老化測(cè)試的同時(shí)性和自動(dòng)化性,
        • 關(guān)鍵字: LED  照明產(chǎn)品  老化測(cè)試  方案    

        ITECH電源和老化測(cè)試軟件在LED照明產(chǎn)品的老化測(cè)試

        • 1 引言LED 照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化試驗(yàn)是LED 照明產(chǎn)品的一個(gè)重要試驗(yàn),主要用于LED 照明產(chǎn)品的可靠性的驗(yàn)證。選用產(chǎn)品 ITECH 臺(tái)灣艾德克斯電子的 IT6710(60V/3A/100W),IT6720 (60V/5A/100W) 或者是IT6721(60V/8A/180
        • 關(guān)鍵字: ITECH  LED  老化測(cè)試  電源    

        NI TestStand處理用于航空電子的老化測(cè)試模型

        • Author(s):
          Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group
          Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business GroupIndustry:
          Aerospace/AvionicsProducts:
          NI TestStand
        • 關(guān)鍵字: TestStand  NI  航空電子  老化測(cè)試    

        基于CAN總線的老化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案

        • 0引言汽車上用的電子設(shè)備的可靠工作與優(yōu)良性能關(guān)系者駕駛者的生命安全。車用電子設(shè)備出廠前要求...
        • 關(guān)鍵字: CAN總線  老化測(cè)試  設(shè)計(jì)  

        基于CAN總線的老化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

        • 為保證安全性與可靠性,車用設(shè)備電路板必須經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試。由于需要老化電路板數(shù)量較大,設(shè)計(jì)了一個(gè)基于 CAN總線的老化測(cè)試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)各個(gè)模塊的功能與設(shè)計(jì),詳細(xì)介紹通信模塊處理串口通信的實(shí)現(xiàn)方法及通信模塊與測(cè)試模塊的 CAN通信機(jī)制。
        • 關(guān)鍵字: CAN  總線  老化測(cè)試  系統(tǒng)    

        僅用100W功率就能對(duì)1kw設(shè)備進(jìn)行老化測(cè)試的傳輸線

        • 一臺(tái)13.56MHz ISM(工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療)頻段射頻測(cè)量設(shè)備要求進(jìn)行50小時(shí)1kw老化測(cè)試。被測(cè)設(shè)備需要同時(shí)加上等效于1kw的射頻電壓和射頻電流,而手里唯一可用的射頻信號(hào)源是一臺(tái)100W射頻發(fā)生器,體現(xiàn)節(jié)省能源的重要性。
        • 關(guān)鍵字: 100W  1kw  設(shè)備  老化測(cè)試    
        共10條 1/1 1

        老化測(cè)試介紹

        您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條老化測(cè)試!
        歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)老化測(cè)試的理解,并與今后在此搜索老化測(cè)試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

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