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錯誤檢測與糾正電路的設(shè)計方案
- 針對一些惡劣的電磁環(huán)境對隨機(jī)存儲器（RAM）電路誤碼影響的情況，根據(jù)糾錯編碼的基本原理，提出簡單實用的能檢查兩位錯誤并自動糾正一位錯誤的EDAC算法；通過VHDL語言編程設(shè)計，由FPGA器件來實現(xiàn)，并給出仿真結(jié)果。
引 言
在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下，一些大規(guī)模集成電路常常會受到干擾，導(dǎo)致不能正常工作。特別是像RAM這種利用雙穩(wěn)態(tài)進(jìn)行存儲的器件，往往會在強(qiáng)干擾下發(fā)生翻轉(zhuǎn)，使原來存儲的0變?yōu)?，或者1變?yōu)?，造成的后果往往是
- 關(guān)鍵字： 設(shè)計 方案 電路 糾正 檢測 錯誤
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