模組內(nèi)部燈條LED真實熱阻模擬測試系統(tǒng)研究與分析

• LED封裝、模組的質(zhì)量水平，如光通量、坐標等光性能，與LED內(nèi)部芯片的結溫高低密切相關。一般LED結溫高，則性能差。因此，對于LED芯片企業(yè)、LED封裝企業(yè)和LED模組整機企業(yè)，了解LED芯片各層結構的熱阻顯得十分必要?，F(xiàn)有的測量方法有很多，如紅外熱像儀法、電學參數(shù)法、光功率法等，行業(yè)測量熱阻比較通用、靠譜的方法是電學參數(shù)法。本文采用的測試方法是基于電學參數(shù)法原理，同時利用“焊腳溫度、環(huán)境溫度”等效法，通過設計相應的PCB規(guī)格，使T3ster熱阻測試儀可測量的待測LED模塊的焊腳及環(huán)境溫度，與真實模組或整
• 關鍵字： LED封裝  模組  熱阻  電學參數(shù)法  芯片結溫