高壓擺率負(fù)載瞬態(tài)測試

• 微處理器和應(yīng)用特定集成電路 (ASIC) 需要低電壓、高電流電源。此類電源通常對輸出電壓偏差有非常嚴(yán)格的要求，對于負(fù)載瞬態(tài)事件尤其如此。測試此類電源會給設(shè)計人員帶來一定的挑戰(zhàn)，并且可能難以確認(rèn)是否符合規(guī)范。本文將介紹更多負(fù)載瞬態(tài)測試的詳細(xì)信息以及可用于簡化這些復(fù)雜測試的方法。首先，需要了解所有瞬態(tài)規(guī)格，以便合理設(shè)計電源，同時還需要了解它們?nèi)绾螒?yīng)用于測試。典型的瞬態(tài)規(guī)格包括：● 負(fù)載階躍大小，以安培為單位或以占滿負(fù)載的百分比表示?！?瞬態(tài)事件（有時為零）期間的最小負(fù)載?！?負(fù)載階躍的壓擺率，通常以
• 關(guān)鍵字： 電壓偏差  電源設(shè)計