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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試負載

        優(yōu)化測試單元產(chǎn)能:Multitest的MT2168充分利用先進測試儀性能

        •   面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計旨在實現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間(DUT交換時間)、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機與新一代測試儀保持同步。   理想情況下,如果分選機沒有局限性,增強的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產(chǎn)能:它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應(yīng)用。   目前很多先進的分選機不能支持增強的測試儀性能,即使它們擁有多個相應(yīng)的測試位亦是如此
        • 關(guān)鍵字: Multitest  測試負載  測試座  

        Multitest推出Plug&Yield優(yōu)化測試單元設(shè)置

        •   面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前推出Plug&Yield®——一款比其他所謂的“整體”解決方案融合更多元素的獨特產(chǎn)品。Multitest不僅作為整個項目的負責(zé)任的合作伙伴優(yōu)化了項目管理,亦確保了最佳上市時間。下面的案例研究描述了一個項目,針對該項目,Multitest結(jié)合先進仿真工具成功應(yīng)用了并行工程方法,旨在針對頗具挑戰(zhàn)性的需要室溫-高溫-低溫測
        • 關(guān)鍵字: Multitest  測試負載  
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        測試負載介紹

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