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        EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試分選

        Multitest任命新總裁

        • ? ??????? 面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,宣布提升Reinhart Richter先生為Multitest集團(tuán)總裁,該任命立即生效。   Reinhart Richter先生在Multitest擔(dān)任銷(xiāo)售及服務(wù)副總裁已有10年之久。在新崗位,他將利用其公司經(jīng)驗(yàn)以及對(duì)行業(yè)和市場(chǎng)的了解,帶領(lǐng)Multitest成為S
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        LED芯片及LED器件的測(cè)試分選

        • led的分選有兩種方法:一是以芯片為基礎(chǔ)的測(cè)試分選,二是對(duì)封裝好的LED進(jìn)行測(cè)試分選。(1)芯片的測(cè)試分選LED...
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        測(cè)試分選介紹

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