檢測(cè) 文章 進(jìn)入檢測(cè)技術(shù)社區(qū)
SMT測(cè)試技術(shù)
- 主要介紹了當(dāng)前用于檢測(cè)組裝后PCB的缺陷和故障的一些常見測(cè)試技術(shù)和方法，并對(duì)未來的組合AXI/ICT互補(bǔ)型SMT測(cè) ...
- 關(guān)鍵字： 缺陷和故障 檢測(cè) 表面貼裝技術(shù) 線路板
KLA-TENCOR推出面向光刻設(shè)計(jì)檢測(cè)方案
- KLA-Tencor正式發(fā)布了業(yè)界第一套用于 post-RET（分辨率增強(qiáng)技術(shù)）掩膜版設(shè)計(jì)版面 (reticle design layout)檢測(cè)的完整芯片光刻制程工藝窗口(lithography process window)（允許誤差空間）檢測(cè)系統(tǒng)。DesignScan 能使芯片生產(chǎn)商減少掩膜版的設(shè)計(jì)修正次數(shù)，獲得高成品率的設(shè)計(jì)，以實(shí)現(xiàn)更好的參數(shù)化設(shè)計(jì)性能和快速的上市時(shí)間
- 關(guān)鍵字： KLA-TENCOR 方案 光刻設(shè)計(jì) 檢測(cè) 其他IC 制程
基于加權(quán)關(guān)聯(lián)規(guī)則的入侵檢測(cè)研究
- 1 前言 隨著internet的飛速發(fā)展，網(wǎng)絡(luò)安全問題變得日趨重要。因此，入侵檢測(cè)作為一種網(wǎng)絡(luò)安全手段受到了越來越多的關(guān)注并逐漸成為動(dòng)態(tài)安全技術(shù)中的核心技術(shù)。對(duì)于入侵檢測(cè)有兩種衡量的標(biāo)準(zhǔn)：檢測(cè)率和誤報(bào)率。一個(gè)優(yōu)秀的入侵檢測(cè)系統(tǒng)要求檢測(cè)率盡可能高且誤報(bào)率盡可能低，傳統(tǒng)的入侵檢測(cè)系統(tǒng)是首先建立一個(gè)包含各種已知網(wǎng)絡(luò)入侵方法和系統(tǒng)缺陷的入侵模式數(shù)據(jù)庫，然后在收集到的網(wǎng)絡(luò)活動(dòng)信息中尋找與數(shù)據(jù)庫項(xiàng)目匹配的蛛絲馬跡。若匹配成功則入侵發(fā)生，否則即為正常數(shù)據(jù)。這說明
- 關(guān)鍵字： 檢測(cè)
射頻功率放大器實(shí)時(shí)檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)
- 廣播電視發(fā)射機(jī)是一個(gè)綜合的電子系統(tǒng)。
- 關(guān)鍵字： 實(shí)現(xiàn) 檢測(cè) 實(shí)時(shí) 功率放大器 射頻
檢測(cè)介紹
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