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        EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 晶格缺陷

        發(fā)光二極管封裝結(jié)構(gòu)及技術(shù)

        共1條 1/1 1

        晶格缺陷介紹

          晶格缺陷【crystal defects】   在實(shí)際的晶體中,由于晶體形成條件、原子的熱運(yùn)動(dòng)及其它條件的影響,原子的排列不可能那樣完整和規(guī)則,往往存在偏離了理想晶體結(jié)構(gòu)的區(qū)域。這些與完整周期性點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的偏離就是晶體中的缺陷,它破壞了晶體的對(duì)稱性。   缺陷對(duì)晶體的物理性質(zhì)具有極其重要的影響,可分為面缺陷、線缺陷和點(diǎn)缺陷三種。其中晶粒間界、堆垛層錯(cuò)和孿晶間界屬于面缺陷,晶粒間界指多晶體中晶 [ 查看詳細(xì) ]

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