晶圓設計 文章 進入晶圓設計技術(shù)社區(qū)
人工智能行業(yè)深度報告：AI下半場，應用落地，賦能百業(yè)
- 2022 年 11 月底，OpenAI 發(fā)布了人機對話模型 ChatGPT，在兩個月不到的時間內(nèi)其線上活躍用戶規(guī)模超 過 1 億人，生成式大模型受到越來越廣泛的關(guān)注，人工智能行業(yè)進入到以大模型為代表的快速發(fā)展階段，巨量 參數(shù)和智能涌現(xiàn)是這一輪人工智能變革的典型特征。微軟、谷歌、Meta、亞馬遜等全球科技巨頭將大模型視為 重要的發(fā)展機遇，在生成式大模型領(lǐng)域加速布局，積極投入且成果頻頻。我國的眾多互聯(lián)網(wǎng)廠商和人工智能企 業(yè)也積極投身到大模型領(lǐng)域中，百度、訊飛、阿里、華為、騰訊、商湯等企業(yè)也在快速更迭自己的大模
- 關(guān)鍵字： EDA AI 晶圓設計
KID65783AP顯示IC的失效分析與研究
- 王少輝，項永金（格力電器（合肥）有限公司，安徽?合肥?230088） 摘?要：柜機空調(diào)顯示板在廠內(nèi)生產(chǎn)過程與售后出現(xiàn)大量失效，故障現(xiàn)象表現(xiàn)為顯示多劃、混亂、LED燈異常點亮等。經(jīng)過分析為KID65783AP顯示IC失效導致，失效模式為1腳對V CC 屬性異?；蚱渌_對V CC 屬性異常。失效芯片經(jīng)分析為部分管腳ESD損傷，以及部分管腳漏電流偏大。本文結(jié)合顯示驅(qū)動IC的失效機理，失效電路，對顯示驅(qū)動IC產(chǎn)品設計進行優(yōu)化更改，提高顯示驅(qū)動IC的ESD(MM)水平。產(chǎn)品同時導入漏電流的測試，從顯示IC產(chǎn)
- 關(guān)鍵字： 202005 顯示驅(qū)動IC ESD損傷 漏電流 晶圓設計 可靠性
| 共2條 1/1 1 |
晶圓設計介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條晶圓設計!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對晶圓設計的理解，并與今后在此搜索晶圓設計的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對晶圓設計的理解，并與今后在此搜索晶圓設計的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473