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一種應(yīng)用于折疊/插值型ADC的高速寬帶采樣保持電路
- 本文提出了一種基于0.18 μm BiCMOS工藝設(shè)計的開環(huán)采樣保持電路，采用了增益和失調(diào)誤差數(shù)字校準算法提升動態(tài)性能，應(yīng)用于高速折疊/插值型ADC中。電路仿真和測試結(jié)果表明，在2GSPS采樣率下，折疊/插值型ADC的DNL≤±0.3LSB、INL≤±0.3LSB，有效位達到7.32位。
- 關(guān)鍵字： 開環(huán)采樣保持電路 數(shù)字校準 折疊插值 202205
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