常見問題解答：如何設(shè)計采用Sallen-Key濾波器的抗混疊架構(gòu)

• 簡介此KWIK（技術(shù)訣竅與綜合知識）電路應(yīng)用筆記提供了解決特定設(shè)計挑戰(zhàn)的分步指南。對于給定的一組應(yīng)用電路要求，本文說明了如何利用通用公式應(yīng)對這些要求，并使它們輕松擴展到其他類似的應(yīng)用規(guī)格。 在任何采樣系統(tǒng)中，例如涉及ADC的測量系統(tǒng)中，有一種稱為混疊的現(xiàn)象，它可能導(dǎo)致處于較高頻帶的信號“向下折疊”到奈奎斯特頻帶，使其與目標(biāo)信號無法區(qū)分。奈奎斯特頻率是采樣速率fs的一半。由ADC采樣的電路帶寬應(yīng)小于采樣速率的一半?；殳B會導(dǎo)致干擾信號和噪聲污染輸出，從而影響測量精度。圖1和圖2分別顯示了正確采樣（高采樣速率）
• 關(guān)鍵字： Sallen-Key  濾波器  抗混疊架構(gòu)