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        并聯(lián)振蕩 文章 進入并聯(lián)振蕩技術社區(qū)

        SiC JFET并聯(lián)的五大難題,破解方法終于來了!

        • 隨著Al工作負載日趨復雜和高耗能,能提供高能效并能夠處理高壓的可靠SiC JFET將越來越重要。我們將詳細介紹安森美(onsemi)SiC cascode JFET,內容包括Cascode(共源共柵)關鍵參數(shù)和并聯(lián)振蕩的分析,以及設計指南。本文將繼續(xù)講解并聯(lián)的挑戰(zhàn)。并聯(lián)的挑戰(zhàn)在前文我們介紹并聯(lián)設計的挑戰(zhàn)如靜態(tài)電流失配、動態(tài)電流失配,接下來將繼續(xù)講解其他挑戰(zhàn)。?并聯(lián)振蕩對于高增益、快速開關器件來說,并聯(lián)振蕩可能是一個問題。由于 SiC JFET cascode(簡稱cascode)內部有兩個有源器件:一個低
        • 關鍵字: 設計指南  并聯(lián)振蕩  柵極驅動器  
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        并聯(lián)振蕩介紹

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