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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 帶電插拔

        MOSFET開關(guān)損耗分析

        • 摘要:為了有效解決金屬一氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)在通信設(shè)備直流-48 V緩啟動應(yīng)用電路中出現(xiàn)的開關(guān)損耗失效問題,通過對MOSFET柵極電荷、極間
        • 關(guān)鍵字: MOSFET  帶電插拔  緩啟動  開關(guān)損耗  

        利用簡單電路解決帶電插拔過程的USB電流過沖問題

        • 將一個簡單的錄音筆或其它外設(shè)插入USB端口時,可能導(dǎo)致不希望發(fā)生的系統(tǒng)復(fù)位。此時需要在端口前端提供一個限...
        • 關(guān)鍵字: 帶電插拔    USB    電流過沖  
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        帶電插拔介紹

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