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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 均勻損耗

        NAND Flash上均勻損耗與掉電恢復(fù)在線測試

        •   摘要 NAND Flash以其大容量、低價格等優(yōu)勢迅速成為嵌入式系統(tǒng)存儲的新寵,因此其上的文件系統(tǒng)研究也日益廣泛,本文簡要介紹了常用的NAND Flash文件系統(tǒng)YAFFS,并針對YAFFS在均勻損耗和掉電恢復(fù)方面進行在線測試。在給出測試結(jié)果的同時,著重研究嵌入式軟件測試方案和方法;對測試結(jié)果進行分析,并提出改進方案和適用環(huán)境。   關(guān)鍵詞 NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS   引 言   隨著嵌入式技術(shù)在各種電子產(chǎn)品中的廣泛應(yīng)用,嵌入式系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)存儲和管理已經(jīng)成為一個重要
        • 關(guān)鍵字: NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS  
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        均勻損耗介紹

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