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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 噪聲測試

        模塊電源輸出及噪聲測試條件與方式

        • 在完成產(chǎn)品設(shè)計(jì)后,首先要進(jìn)行的就是干擾及噪聲的測試,這兩項(xiàng)參數(shù)將直接關(guān)系到產(chǎn)品能否最終上市,所以顯得十分重要。在本篇文章當(dāng)中,小編將為大家介
        • 關(guān)鍵字: 模塊電源  噪聲測試  

        用于4G-LTE頻段噪聲測試和互調(diào)測試的濾波器組件

        • 本文描述了測試系統(tǒng)的射頻濾波模塊系統(tǒng)。隨著頻段數(shù)量激增,這些系統(tǒng)模塊可被靈活地插入(取出)系統(tǒng),從而提供基...
        • 關(guān)鍵字: 射頻濾波  4G-LTE  噪聲測試  

        機(jī)器設(shè)備噪聲測試的方法--振動(dòng)法測噪聲

        • 一.引言對(duì)機(jī)器設(shè)備噪聲測量最通常的方法是用聲級(jí)計(jì)進(jìn)行聲壓級(jí)測量,然而在不少場合,這種人們十分熟悉的方法卻...
        • 關(guān)鍵字: 機(jī)器設(shè)備  噪聲測試  振動(dòng)法  

        機(jī)器設(shè)備噪聲測試:振動(dòng)法測噪聲

        • 一.引言對(duì)機(jī)器設(shè)備噪聲測量最通常的方法是用聲級(jí)計(jì)進(jìn)行聲壓級(jí)測量,然而在不少場合,這種人們十分熟悉的方法卻...
        • 關(guān)鍵字: 機(jī)器設(shè)備  噪聲測試  振動(dòng)法  

        LabVIEW應(yīng)用于車輛通過噪聲測試的聲學(xué)波束成形

        • 聲學(xué)圖像識(shí)別50公里時(shí)速、1,904.3Hz下的輪胎和排氣噪聲我們選擇了緊湊且直流供電的NI硬件,它能為陣列中...
        • 關(guān)鍵字: LabVIEW  噪聲測試  聲學(xué)波束成形  

        模塊電源的噪聲測試技巧介紹

        • 目前,模塊電源的設(shè)計(jì)日趨規(guī)范化,控制電路傾向于采用數(shù)字控制方式,非隔離式DC-DC變換器(包括VRM)比隔離式增長...
        • 關(guān)鍵字: 模塊電源  噪聲測試  

        淺談模塊電源的噪聲測試方法

        •  目前,模塊電源的設(shè)計(jì)日趨規(guī)范化,控制電路傾向于采用數(shù)字控制方式,非隔離式DC-DC變換器(包括VRM)比隔離式增長速度更快。隨著半導(dǎo)體工藝和封裝技術(shù)的改進(jìn),高頻軟開關(guān)技術(shù)的大量應(yīng)用,模塊電源的功率密度越做越
        • 關(guān)鍵字: 模塊電源  方法  噪聲測試    

        PN結(jié)二極管散粒噪聲測試方法研究

        • 摘要:針對(duì)散粒噪聲難以測量的特點(diǎn),提出了一種低溫散粒噪聲測試方法。在屏蔽環(huán)境下,將被測器件置于低溫裝置內(nèi),有效抑制了外界電磁波和熱噪聲的干擾,采用背景噪聲充分低的放大器以及偏置器、適配器等,建立低溫散
        • 關(guān)鍵字: PN結(jié)  二極管  噪聲測試  方法研究    

        短溝道MOSFET散粒噪聲測試方法研究

        • 近年來隨著介觀物理和納米電子學(xué)對(duì)散粒噪聲研究的不斷深入,人們發(fā)現(xiàn)散粒噪聲可以很好的表征納米器件內(nèi)部電子傳輸特性。由于宏觀電子元器件中也會(huì)有介觀或者納米尺度的結(jié)構(gòu),例如缺陷、小孔隙和晶粒等,因而也會(huì)
        • 關(guān)鍵字: MOSFET  噪聲測試  方法研究    
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        噪聲測試介紹

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