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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 分層測(cè)試

        基于分層測(cè)試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測(cè)試新方法

        • 以基于靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)為例,在傳統(tǒng)的三次測(cè)試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對(duì)FPGA互聯(lián)資源的測(cè)試方法。該方法運(yùn)用了層次化的思想,根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(diǎn)(PIP)兩端連線資源的區(qū)別將互聯(lián)資源進(jìn)行層次化分類,使得以這種方式劃分的不同類別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進(jìn)行疊加測(cè)試,這就從根本上減少了實(shí)際需要的測(cè)試配置圖形和最小配置次數(shù)。
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        分層測(cè)試介紹

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