智能型光電采樣器的設(shè)計

• 各代光電采樣器的比較 　　第一代模擬式光電采樣器，是一種簡單的光電發(fā)射、接收電路，幾乎不具備抗外界干擾能力。第二代模擬式光電采樣器，具有一定的抗外界干擾性能，但是需電位器調(diào)節(jié)。在電表轉(zhuǎn)速發(fā)生變化時，往往不能正常采樣，需多次調(diào)節(jié)，大大降低了工作效率；另外，電位器使用一久，機械件的松動和電位器的磨損，使有些光電采樣器根本無法正常采樣。第三代數(shù)控式光電采樣器的出現(xiàn)，使光電采樣器的發(fā)展產(chǎn)生了質(zhì)的飛躍，該產(chǎn)品對好光后，即可正常采樣，且具有一定的抗干擾性能，但該產(chǎn)品在外界光線變化較大時，往往不能正常采樣。而且大多數(shù)
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