內(nèi)存狂跌引發(fā)質(zhì)量嚴(yán)重下滑 不良率數(shù)倍提升

• “憑良心來講，現(xiàn)在內(nèi)存的品質(zhì)整體來說真的很差?！蹦称放苾?nèi)存的一位高管向PConline產(chǎn)業(yè)資訊這樣透露。 根據(jù)相關(guān)人士透露，內(nèi)存晶元的測試，是晶元廠要另外要付費給專門的測試廠商。按照業(yè)界的概況，DDR2的顆粒一般好一點的原廠要測試800秒，普通的廠商是測試400秒。一般來說，原廠的品牌顆粒不太敢完全不測試，多少會測一下。但是現(xiàn)在測試時間變成了200秒或者100秒，甚至有些廠商只測50秒。 一般來說，如果經(jīng)過800秒完全測試，內(nèi)存顆粒的不良率可以低于500PPM(注1)，非常的低。當(dāng)測試時間從800秒
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