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        LDO環(huán)路穩(wěn)定性及其對(duì)射頻頻綜相噪的影響

        作者: 時(shí)間:2014-01-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/258436.htm


        第一章中我們已經(jīng)討論了加一個(gè)前饋電容可以有效的提高電源的,從而降低的輸出噪聲頻譜密度。基于此,我們?cè)?a class="contentlabel" href="http://www.antipu.com.cn/news/listbylabel/label/TPS7A8101">TPS7A8101輸出加一個(gè)0.47 ?F的前饋電容,修改后的原理圖如下圖12所示。



        針對(duì)修改前后的設(shè)計(jì),我們對(duì)比測(cè)試了相應(yīng)的TRF3765相噪曲線,如圖13所示,由圖可見,增加0.47 ?F輸出電容后,1KHz到10MHz的RMS抖動(dòng)由0.62ps提高到0.49ps.



        4結(jié)論

        綜合以上兩組測(cè)試的測(cè)試結(jié)果,可以得到下表



        由表1可以看到,由于的噪聲頻譜密度最小,在給頻綜供電的時(shí)候可以取得最好的相噪性能;噪聲頻譜密度相對(duì)較大,在給頻綜供電的時(shí)候取得的相噪性能相對(duì)較差;但是通過優(yōu)化的輸出電路設(shè)計(jì),頻綜的相位噪聲得到了明顯的改善。

        實(shí)測(cè)結(jié)果很好的驗(yàn)證了前文的理論分析,即:的噪聲頻譜密度參數(shù)(NSD)決定了由電源噪聲引起的VCO相噪惡化;通過提高LDO的可以達(dá)到降低噪聲頻譜密度的目的,從而改善頻綜的輸出相噪。

        5、參考文獻(xiàn)[1] LDO Noise Examined In Detail (SLAA412)

        [2] LDO Noise Demystified (SLYT489)

        [3] Externally Inducted VCO Phase Noise, DENNIS COLIN, Mica Microwave

        [4] Datasheet (SBVS066M)

        [5] TPS7A8101 Datasheet (SBVS179A)


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