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        改進的開關性能快速IGBT帶來新的挑戰(zhàn)

        作者: 時間:2012-03-15 來源:網(wǎng)絡 收藏
        7 危險行為
        加上吸收電容,直流母線就像一個諧振頻率為fRes,ZK的諧振電路。因此,可能會產生臨界狀態(tài)。例如,如果開關頻率是f0的偶次因數(shù),就會出現(xiàn)臨界現(xiàn)象。在這種情況下,如果諧振電路的品質因數(shù)足夠好,在下一個開關操作中注入到吸收電容中的能量是同相的。這可能會在短短的幾個時鐘脈沖之后導致臨界的。由于測試模塊相對較差的質量,可以預計當開關頻率為30kHz或以上時該影響會顯現(xiàn)。
        此外,各種直流母線電路和/或模塊之間的不正確連接也可能導致不希望的激勵,這種情況應該在每個案例中進行檢查。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/230972.htm

        8 總結
        關斷過程中uce-和iC的測量分析,說明了直流母線寄生電感和模塊電感之間的相互作用。這使得在給定的應用中非常容易分析出薄弱環(huán)節(jié),并在模擬中發(fā)現(xiàn)最大的潛力。
        可以看出,單純改變關斷速度只能降低模塊所產生的尖峰。直流母線電路中的主要是電流等級的函數(shù),只能通過降低di/dt略微減小。
        關斷過程的形式化描述,揭示了選擇合適的開關速度、吸收電容和模塊設計時的可能性和限制。措施均衡結合是優(yōu)化成本、提高可靠性的一個好方法——直接在電腦上進行,無需復雜的測試。

        參考文獻
        [1] Josef Lutz: Halbleiter-Leistungsbauelemente, Springer-Verlag 2006
        [2] Weizmann Institute of Science: grace / xmgrace
        [3] Steinbuch, Rupprecht: Nachrichtentechnik, Bd1: Schaltungstechnik, Springer-Verlag 1982
        [4] Application Note AN7006: Peak Voltage Measurement and Snubber Capacitors Specification


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