圖6. 能量和電壓與電源耦合電容的關(guān)系

被保護引腳電容上的能量如圖6所示，對小的去耦電容，箝位二極管通過進入突變穩(wěn)定模式限制電壓(V1)。突變穩(wěn)定后的電壓所產(chǎn)生的能量近似地隨著電容的增大而成比例增大。電源去耦電容增大到一定程度后，電荷傳輸不會產(chǎn)生導(dǎo)致箝位電路擊穿的電壓。

箝位電壓高于IC所能承受的電壓(典型值6V)，低于二極管的擊穿電壓(約10V)時，對于存在去耦電容的情況，因為電容儲能可能導(dǎo)致某些問題。如果IC在沒有外部電路的情況下進行測試，引腳上作用10V電壓是可以接受的，對器件不會構(gòu)成威脅。

改善ESD保護

合理選擇去耦電容的大小有助于在電路中提高IC的保護，降低電容儲能，使ESD電荷不會產(chǎn)生擊穿箝位電路的電壓。

對于小尺寸高速雙極型IC，HBM測試中吸收的最大能量是1μJ；2kV人體模式下，如果電容小于0.02μF (圖6)， 箝位二極管會產(chǎn)生動作。為了使去耦電容的能量低于1μJ，去耦電容有兩種選擇：要么容值大于0.05μF，要么小于0.005μF。當(dāng)使用更高的測試電壓時，要按比例增大0.05μF電容的尺寸。

結(jié)論

IC及其周邊元件需要承受突破應(yīng)用電路鏡電防護層的ESD能量，電源的去耦電容可能是降低作用到IC上的ESD強度的一條低成本解決途徑，諸多設(shè)計因素會影響ESD性能，具體可以歸納為：

1.確定應(yīng)用場合的測試電壓(VESD)，典型值為2kV的HBM或100V MM模式。

2.檢查IC的可靠性報告，確認(rèn)二極管、鉗位二極管和傳導(dǎo)路徑適合的測試電壓。Maxim的可靠性報告中提供了IC的相關(guān)信息。

3.當(dāng)使用外部電容，如電源濾波電容(C1)時，需檢查其產(chǎn)生的電壓，這個電壓最終作用到IC上。

4.如果出現(xiàn)ESD沖擊時，電壓介于IC的最大額定電壓(典型值為6V)與擊穿電壓(典型值在8V至10V)，可以考慮使用較大尺寸的電容來替代電源濾波的方案。