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        PCB技術(shù)在高速設(shè)計中的特性阻抗問題

        作者: 時間:2010-09-27 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          的計算

          簡單的模型:Z=V/I,Z代表信號傳遞過程中每一步的阻抗,V代表信號進入傳輸線時的電壓,I代表電流。I=±Q/±t,Q代表電量,t代表每一步的時間。

          電量(來源于電池):±Q=±C×V,C代表電容,V代表電壓。電容可以用傳輸線單位長度容量CL和信號傳遞速度v來推導。單位引腳的長度值當作速度,再乘以每步所需時間t, 則得到公式: ±C=CL×v×(±)t.綜合以上各項,我們可以得出:Z=V/I=V/(±Q/±t)=V/(±C×V/±t)=V/(CL×v×(±)t×V/±t)=1/(CL×v)

          可以看出,特性阻抗跟傳輸線單位長度容量和信號傳遞速度有關(guān)。為了區(qū)別特性阻抗和實際阻抗Z,我們在Z后面加上0.傳輸線特性阻抗為:Z0=1/(CL×v)

          如果傳輸線單位長度容量和信號傳遞速度保持不變,那么傳輸線特性阻抗也保持不變。這個簡單的說明能將電容常識和新發(fā)現(xiàn)的特性阻抗理論聯(lián)系在一起。如果增加傳輸線單位長度容量,例如加粗傳輸線,可降低傳輸線特性阻抗。

          特性阻抗的測量

          當電池和傳輸線連接時(假如當時阻抗為50歐姆),將歐姆表連接在3英尺長的RG58光纜上,這時如何測無窮阻抗呢?任何傳輸線的阻抗都和時間有關(guān)。如果你在比光纜反射更短的時間里測量光纜的阻抗,你測量到的是“浪涌”阻抗,或特性阻抗。但是如果等待足夠長的時間直到能量反射回來并接收后,經(jīng)測量可發(fā)現(xiàn)阻抗有變化。一般來說,阻抗值上下反彈后會達到一個穩(wěn)定的極限值。

          對于3英尺長的光纜,必須在3納秒內(nèi)完成阻抗的測量。TDR(時間域反射儀)能做到這一點,它可以測量傳輸線的動態(tài)阻抗。如果在1秒鐘內(nèi)測量3英尺光纜的阻抗,信號會來回反射數(shù)百萬次,因此會得到不同的“浪涌”阻抗。

          本文作者Eric Bogatin在麻省理工學院獲得物理學學士學位,在亞利桑那州立大學獲得物理學碩士和博士學位。他曾在ATT公司、貝爾實驗室和太陽微系統(tǒng)等著名公司工作過?,F(xiàn)任Bogatin公司獨立顧問,專門從事信號完整性及互連設(shè)計的培訓工作。


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