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        【技術(shù)交流】LED芯片壽命試驗(yàn)過程全解析

        作者: 時間:2012-07-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        源設(shè)備,輸出為5路直流36V安全電壓,負(fù)載能力為5A,其中2路具有微電腦定時控制功能,可自動開啟或關(guān)閉,5路輸入、輸出分別指示,圖三為壽命試驗(yàn)臺系統(tǒng)接線圖。

         本壽命試驗(yàn)臺設(shè)計(jì)方案的優(yōu)點(diǎn):

         [1].壽命試驗(yàn)電流準(zhǔn)確、可調(diào)、恒定;

         [2].具有微電腦定時控制功能,可自動開啟或關(guān)閉;

         [3].可同時適用不同VF的,而不必另外調(diào)整;

         [4].采用單元組合結(jié)構(gòu),可隨時增加壽命試驗(yàn)單元,實(shí)現(xiàn)在線操作;

         [5].采用低壓供電,保障安全性能。


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        關(guān)鍵詞: LED 芯片壽命 試驗(yàn)過程

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