高頻鎖相環(huán)的可測性設(shè)計
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提出了測試方案，并給出了相應(yīng)的測試電路。并對采用該方案進行測試的高速鎖相環(huán)在增加測試電路前后電路的仿真結(jié)果進行了比較。結(jié)果表明，本文所提出的高頻鎖相環(huán)測試方案對鎖相環(huán)本身的功能影響很小。參考文獻
1］Prashant Goteti，Giri Devarayanadurg, Mani Soma? DFT for Em bedded Chargepump Systems Incorporating［J］. IEEE1149.1IEEE,1997, C ustom Integrated Circuits Conference, 1997：210-213
2］IEEE S
3］Michael L Bushnell, Vishwani?Agrawal Essenentials of E lectronic Testing for Digital, Memory and Mixedsignal VLSI Circuits［M］.Kluwr Aca demic Publishers, 2000
4］于宗光.IEEE 1149.1標準與邊界掃描技術(shù)［J］.電子與封裝，200 3，3（5）：40-47.
5］成立，王振宇，高平，等.VLSI電路可測性設(shè)計技術(shù)及其應(yīng)用綜述［J］.半導(dǎo)體技術(shù)，2004，29（5）：2024.
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