無(wú)鹵素的要求標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試
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測(cè)試方法：
(1)prEN 14582 Characterication of waste – Halogen and sulfur content – Oxygen combustion in closed systems and determination method
method A (Calorimetric bomb method)
method B (Schoniger flask combustion method)
(2)IEC 61189-2 測(cè)試方法，用于電子材料、PCB板以及互聯(lián)結(jié)構(gòu)件和組裝件
part 2 TEST 2C12 測(cè)試方法用于互聯(lián)結(jié)構(gòu)件
(3)JPCA-ES-01-2003
無(wú)鹵素材料的測(cè)試方法
(4)IPC TM-650 (Number 2.3.41)
無(wú)鹵素要求規(guī)范：
規(guī)范 | 要求 |
IEC 61249-2-21 | Cl≤900ppm Br≤900ppm 鹵素總量：1500ppm（F、I、At并沒(méi)有在無(wú)鹵素工業(yè)定義中） |
JPCA-ES01 2003 | |
IPC 4101 | |
Apple Halogen-Free Specification 069-1857-A | Cl≤900ppm Br≤900ppm Cl+Br≤1500ppm |
Dell Halogen-Free Guideline A00-00（2008至少需有一個(gè)無(wú)鹵產(chǎn)品；2009年底需全面導(dǎo)入） | Cl：1000ppm Br：1000ppm 
關(guān)鍵詞：
無(wú)鹵素
標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)試
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評(píng)論