耗電量低且少元件的零交叉檢測器
注意:在已通電設(shè)備上對該電路進行臺架測試時,請絕對小心。在設(shè)計印刷電路板時請遵循相關(guān)指南。
原文作者:C Castro-Miguens M Pérez Suárez 西班牙Vigo大學;JB Castro-Miguens 西班牙馬德里Cesinel
注意:在已通電設(shè)備上對該電路進行臺架測試時,請絕對小心。在設(shè)計印刷電路板時請遵循相關(guān)指南。
原文作者:C Castro-Miguens M Pérez Suárez 西班牙Vigo大學;JB Castro-Miguens 西班牙馬德里Cesinel
評論