MSP430非模擬IIC總線(xiàn)控制程序
作者：
時(shí)間：2016-12-02
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)
收藏
加入技術(shù)交流群
掃碼加入
和技術(shù)大咖面對(duì)面交流
海量資料庫(kù)查詢(xún)
#if __VER__ < 200
interrupt [USART0TX_VECTOR] void ISR_I2C(void)
#else
#pragma vector=USART0TX_VECTOR
__interrupt void ISR_I2C(void)
#endif //上面的程序其實(shí)只要編寫(xiě) :
//#pragma vector=USART0TX_VECTOR __interrupt void ISR_I2C(void)就行.
{
switch (I2CIV)
{
case I2CIV_AL:
{
//仲裁中斷
break;
}
case I2CIV_NACK:
{
//NACK中斷
break;
}
case I2CIV_OA:
{
//自己地址中斷
break;
}
case I2CIV_ARDY:
{
//訪(fǎng)問(wèn)準(zhǔn)備好中斷
break;
}
case I2CIV_RXRDY:
{
//接收準(zhǔn)備好中斷
I2CBuffer[0]=I2CDRB;
break;
}
case I2CIV_TXRDY:
{
//發(fā)送準(zhǔn)備好中斷
I2CDRB = I2CBuffer[tx_count];
tx_count = tx_count - 1;
if (tx_count < 0)
{
//禁止發(fā)送中斷
I2CIE &= ~TXRDYIE;
}
break;
}
case I2CIV_GC:
{
//一般調(diào)用中斷
break;
}
case I2CIV_STT:
{
//起始條件中斷
break;
}
}
}
void Init_IIC_Port(void)
{
//初始化端口寄存器 與IIC口無(wú)關(guān)的PX口關(guān)閉以便于對(duì)編寫(xiě)系統(tǒng)板的綜合程序.
//P1DIR = 0xFF;
//P2DIR = 0xFF;
P3DIR = 0xF5;
//P4DIR = 0xFF;
P5DIR = 0x7F;
//P6DIR = 0xFF;
//P4OUT = 0X11;
//P5OUT &= 0XF0;
P3SEL|=BIT1+BIT3; //在這里如果設(shè)置成
}
void Init_CLK(void)
{
unsigned int i;
//將寄存器的內(nèi)容清零
//XT2震蕩器開(kāi)啟
//LFTX1工作在低頻模式
//ACLK的分頻因子為1
BCSCTL1 = 0X00;
do
{
// 清除OSCFault標(biāo)志
IFG1 &= ~OFIFG;
for (i = 0x20; i > 0; i--);
}
while ((IFG1 & OFIFG) == OFIFG); // 如果OSCFault =1
//open XT2, LFTX2 選擇低頻率
BCSCTL1 &= ~(XT2OFF + XTS); //BCSCTL1=0X00 功能一樣
//DCO Rsel=7(Freq=3200k/25攝氏度）
BCSCTL1 |= RSEL0 + RSEL1 + RSEL2;
BCSCTL1 |= 0x07;
//MCLK的時(shí)鐘源為T(mén)X2CLK，分頻因子為1
BCSCTL2 += SELM1;
//SMCLK的時(shí)鐘源為T(mén)X2CLK，分頻因子為1
BCSCTL2 += SELS;
}
//對(duì)于系統(tǒng)時(shí)鐘的選擇關(guān)系到整個(gè)程序運(yùn)行穩(wěn)定性.
看到很多賣(mài)開(kāi)發(fā)板的人將IIC硬件寫(xiě)上去后再去搞個(gè)模擬的IIC總線(xiàn)程序. 感覺(jué)到有點(diǎn)說(shuō)不出的感覺(jué). 其實(shí)430的IIC不是專(zhuān)用來(lái)外擴(kuò)展FLASH的,而是用來(lái)和一些特殊的電路連接,實(shí)現(xiàn)功能. 對(duì)于MSP430147~149 15X 16X 的芯片內(nèi)部有48~60K的Flash了還有必要來(lái)個(gè)模擬的IIC總線(xiàn)時(shí)序么.裝個(gè)UCOS都可以了.開(kāi)發(fā)板要做的事情就是如何做好非模擬IIC程序的設(shè)計(jì).更不是為了和C1搞比拼搶占市場(chǎng).
上面的程序是經(jīng)過(guò)MSP430F1611的測(cè)試.程序的大部分來(lái)自
評(píng)論