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        流水線(xiàn)ADC中高速比較器的設(shè)計(jì)和分析

        作者: 時(shí)間:2009-03-17 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


          公式(1)中,

        ,

          而Vos2 主要由PM7,PM8,PM9,PM10 失配以及PM6 與PM12 關(guān)斷引入的失配引起的電荷Q 所組成的,表達(dá)式為,

          因此,總體的失調(diào)電壓為,


          根據(jù)公式(5),只要Av 足夠的大,那么整個(gè)的運(yùn)放的失調(diào)就可以認(rèn)為主要由前置增益運(yùn)放的失調(diào)電壓Vos1 造成的。
          在公式(1)~(5)中,Avtn, Avtp, n Ab , p和 Ab 是與工藝相關(guān)的常數(shù),是前置運(yùn)放負(fù)載晶體管的失調(diào)電壓,是輸入晶體管的失調(diào)電壓,因此加大晶體管的面積可以得到較小的失調(diào)電壓。但是,這種方法將加大版圖的面積以及寄生電容,而且也會(huì)降低的速度。其實(shí)不用增大所有管子的面積,就可以減小的失調(diào)電壓。根據(jù)公式(5),可以增大增益Av 來(lái)減小Vos2 對(duì)比較器的失調(diào)影響。根據(jù)公式(1),可采用減小Vos1的方法如下:1)增大Av,用來(lái)減小NM2 和NM3 的失配對(duì)Vos1 的影響;2)適量的增加NM2 和NM3 的面積,以減小閾值電壓的失配對(duì)Vos1 的影響。

          圖2 為比較器的版圖。版圖的左邊為前置運(yùn)放的版圖,右邊為鎖存比較器的版圖。為了減小由于版圖的失配帶來(lái)的比較器的輸入電壓,前置運(yùn)放和鎖存比較器分別采用對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu),增加比較器的對(duì)稱(chēng)性。

        圖2 比較器的版圖

        3.2 踢回噪聲

          在前置運(yùn)放的輸出端和鎖存比較器的輸入端之間需要一個(gè)隔離電路來(lái)減小踢回噪聲[2]。在鎖存比較器的兩個(gè)輸入端的晶體管的前面,分別加上一個(gè)PMOS管(PM6,PM11)作為開(kāi)關(guān)管,晶體管的共柵電壓用來(lái)控制信號(hào)。因此,踢回噪聲對(duì)整個(gè)前置增益運(yùn)放鎖存比較器的影響就顯著的減小了。

        3.3 傳輸延遲時(shí)間的改善

          有兩種方法減小傳輸比較器的延遲:1)降低前置增益運(yùn)放的時(shí)間常數(shù);2)加大前置增益運(yùn)放的A(s)[5][6]。

          圖3 為前置增益運(yùn)放的交流小信號(hào)等效模型。根據(jù)圖3,可得到等式(6),(7)


        圖3 前置增益運(yùn)放的小信號(hào)等效模型



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