利用LTCC的DFM方法來實現(xiàn)一次設(shè)計成功
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對低通濾波器電路實例的6,000次試驗進(jìn)行蒙特卡洛/產(chǎn)出分析(圖9)，低通濾波器插損、二階諧波抑制和三階諧波抑制的統(tǒng)計分析結(jié)果(未給出)表明，這些情形中設(shè)計未滿足指標(biāo)，并顯示設(shè)計通過6000次試驗達(dá)到100%產(chǎn)出。
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圖10給出了總共5個測量樣本跟單次EM仿真數(shù)據(jù)的比較。圖中參數(shù)S11和S21是EM仿真結(jié)果，其它曲線反映測量數(shù)據(jù)的情況。測量樣本數(shù)據(jù)同仿真結(jié)果具有良好的一致性。
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兩個實例顯示DFM提供了獲得一次性設(shè)計成功的實用手段，甚至在像LTCC具有固有變差那樣的過程里。成功依賴于一個經(jīng)十分慎重選擇后得到的設(shè)計流程，選用寬帶模型尤其重要。在整個設(shè)計過程中應(yīng)用DFM提高了一次性設(shè)計成功的機會。盡管這兩個說明DFM的例子是基于LTCC，該設(shè)計流程同樣能用到其它過程。
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