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        通過增益校準(zhǔn)提高DAC積分非線性(INL)

        作者:OnurOzbek 時(shí)間:2012-08-21 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

        圖3:帶ADC反饋的I

          INL通常在滿量程的一半達(dá)到其最大值,如圖 4所示。如果我們能把這個(gè)峰值降下來,我們將會(huì)顯著改善INL。這個(gè)發(fā)現(xiàn)引導(dǎo)我們使用兩點(diǎn)校正代替終端或單點(diǎn)校正技術(shù),因?yàn)橥ㄟ^終端或單點(diǎn)校正技術(shù)并不足以完全去除增益誤差。第一個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)用來校準(zhǔn)前半部分(見方程1)。同樣,第二個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)用于校準(zhǔn)后半部分(見方程2)?! ?/p>本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/135954.htm

         

          該算法工作流程如下,見圖5。最初,這兩個(gè)增益修正值在數(shù)字輸入值中間和末端計(jì)算和保存。這是唯一一次使用ADC。因此,我們只有需要測量和計(jì)算校準(zhǔn)一次?! ?/p>


        圖5:兩點(diǎn)增益校準(zhǔn)算法流程圖


        關(guān)鍵詞: DAC SoC 轉(zhuǎn)換器

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